VLSI Electronics: Microstructure: Microstructure Science
Anant G. Sabnis
2014年7月 · VLSI Electronics Microstructure Science 22 巻 · Academic Press
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207
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As integrated cicuits become more complex, with smaller and smaller geometries, much more care must be taken to avoid reliability problems. This practical volume covers a broad spectrum of reliability issues in integrated circuits, from basic concepts to packaging.Topics include:**failure analysis techniques**radiation effects**reliability assurance and qualification
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