VLSI Electronics: Microstructure: Microstructure Science
Anant G. Sabnis
juuli 2014 · VLSI Electronics Microstructure Science 22. raamat · Academic Press
E-raamat
207
lehekülge
family_home
Sobilik
info
reportHinnangud ja arvustused pole kinnitatud. Lisateave
Teave selle e-raamatu kohta
As integrated cicuits become more complex, with smaller and smaller geometries, much more care must be taken to avoid reliability problems. This practical volume covers a broad spectrum of reliability issues in integrated circuits, from basic concepts to packaging.Topics include:**failure analysis techniques**radiation effects**reliability assurance and qualification
Hinnake seda e-raamatut
Andke meile teada, mida te arvate.
Lugemisteave
Nutitelefonid ja tahvelarvutid
Installige rakendus Google Play raamatud Androidile ja iPadile/iPhone'ile. See sünkroonitakse automaatselt teie kontoga ja see võimaldab teil asukohast olenemata lugeda nii võrgus kui ka võrguühenduseta.
Sülearvutid ja arvutid
Google Playst ostetud audioraamatuid saab kuulata arvuti veebibrauseris.
E-lugerid ja muud seadmed
E-tindi seadmetes (nt Kobo e-lugerid) lugemiseks peate faili alla laadima ja selle oma seadmesse üle kandma. Failide toetatud e-lugeritesse teisaldamiseks järgige üksikasjalikke abikeskuse juhiseid.
