On-Line Testing for VLSI

· ·
· Frontiers in Electronic Testing 11. kniha · Springer Science & Business Media
E‑kniha
160
Počet strán
Hodnotenia a recenzie nie sú overené  Ďalšie informácie

Táto e‑kniha

Test functions (fault detection, diagnosis, error correction, repair, etc.) that are applied concurrently while the system continues its intended function are defined as on-line testing. In its expanded scope, on-line testing includes the design of concurrent error checking subsystems that can be themselves self-checking, fail-safe systems that continue to function correctly even after an error occurs, reliability monitoring, and self-test and fault-tolerant designs.
On-Line Testing for VLSI contains a selected set of articles that discuss many of the modern aspects of on-line testing as faced today. The contributions are largely derived from recent IEEE International On-Line Testing Workshops. Guest editors Michael Nicolaidis, Yervant Zorian and Dhiraj Pradhan organized the articles into six chapters. In the first chapter the editors introduce a large number of approaches with an expanded bibliography in which some references date back to the sixties.
On-Line Testing for VLSI is an edited volume of original research comprising invited contributions by leading researchers.

Ohodnoťte túto elektronickú knihu

Povedzte nám svoj názor.

Informácie o dostupnosti

Smartfóny a tablety
Nainštalujte si aplikáciu Knihy Google Play pre AndroidiPad/iPhone. Automaticky sa synchronizuje s vaším účtom a umožňuje čítať online aj offline, nech už ste kdekoľvek.
Laptopy a počítače
Audioknihy zakúpené v službe Google Play môžete počúvať prostredníctvom webového prehliadača v počítači.
Čítačky elektronických kníh a ďalšie zariadenia
Ak chcete tento obsah čítať v zariadeniach využívajúcich elektronický atrament, ako sú čítačky e‑kníh Kobo, musíte stiahnuť príslušný súbor a preniesť ho do svojho zariadenia. Pri prenose súborov do podporovaných čítačiek e‑kníh postupujte podľa podrobných pokynov v centre pomoci.