On-Line Testing for VLSI

· ·
· Frontiers in Electronic Testing Kniha 11 · Springer Science & Business Media
E‑kniha
160
Stránky
Hodnocení a recenze nejsou ověřeny  Další informace

Podrobnosti o e‑knize

Test functions (fault detection, diagnosis, error correction, repair, etc.) that are applied concurrently while the system continues its intended function are defined as on-line testing. In its expanded scope, on-line testing includes the design of concurrent error checking subsystems that can be themselves self-checking, fail-safe systems that continue to function correctly even after an error occurs, reliability monitoring, and self-test and fault-tolerant designs.
On-Line Testing for VLSI contains a selected set of articles that discuss many of the modern aspects of on-line testing as faced today. The contributions are largely derived from recent IEEE International On-Line Testing Workshops. Guest editors Michael Nicolaidis, Yervant Zorian and Dhiraj Pradhan organized the articles into six chapters. In the first chapter the editors introduce a large number of approaches with an expanded bibliography in which some references date back to the sixties.
On-Line Testing for VLSI is an edited volume of original research comprising invited contributions by leading researchers.

Ohodnotit e‑knihu

Sdělte nám, co si myslíte.

Informace o čtení

Telefony a tablety
Nainstalujte si aplikaci Knihy Google Play pro AndroidiPad/iPhone. Aplikace se automaticky synchronizuje s vaším účtem a umožní vám číst v režimu online nebo offline, ať jste kdekoliv.
Notebooky a počítače
Audioknihy zakoupené na Google Play můžete poslouchat pomocí webového prohlížeče v počítači.
Čtečky a další zařízení
Pokud chcete číst knihy ve čtečkách elektronických knih, jako např. Kobo, je třeba soubor stáhnout a přenést do zařízení. Při přenášení souborů do podporovaných čteček elektronických knih postupujte podle podrobných pokynů v centru nápovědy.