Nanoscale Memory Repair
sij 2011. · Springer Science & Business Media
2,0star
1 recenzijareport
E-knjiga
218
str.
reportOcjene i recenzije nisu potvrđene Saznajte više
O ovoj e-knjizi
Yield and reliability of memories have degraded with device and voltage scaling in the nano-scale era, due to ever-increasing hard/soft errors and device parameter variations. This book systematically describes these yield and reliability issues in terms of mathematics and engineering, as well as an array of repair techniques, based on the authors’ long careers in developing memories and low-voltage CMOS circuits. Nanoscale Memory Repair gives a detailed explanation of the various yield models and calculations, as well as various, practical logic and circuits that are critical for higher yield and reliability.
Ocjene i recenzije
2,0
1 recenzija
Ocijenite ovu e-knjigu
Recite nam što mislite.
Informacije o čitanju
Pametni telefoni i tableti
Instalirajte aplikaciju Google Play knjige za Android i iPad/iPhone. Automatski se sinkronizira s vašim računom i omogućuje vam da čitate online ili offline gdje god bili.
Prijenosna i stolna računala
Audioknjige kupljene na Google Playu možete slušati pomoću web-preglednika na računalu.
Elektronički čitači i ostali uređaji
Za čitanje na uređajima s elektroničkom tintom, kao što su Kobo e-čitači, trebate preuzeti datoteku i prenijeti je na svoj uređaj. Slijedite detaljne upute u centru za pomoć za prijenos datoteka na podržane e-čitače.
