Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance, and Reliability

· Frontiers in Electronic Testing หนังสือเล่มที่ 37 · Springer Science & Business Media
eBook
408
หน้า
คะแนนและรีวิวไม่ได้รับการตรวจสอบยืนยัน  ดูข้อมูลเพิ่มเติม

เกี่ยวกับ eBook เล่มนี้

Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance and Reliability covers various technologies that have been developing over the last decades such as chemically assembled electronic nanotechnology, Quantum-dot Cellular Automata (QCA), and nanowires and carbon nanotubes. Each of these technologies offers various advantages and disadvantages. Some suffer from high power, some work in very low temperatures and some others need indeterministic bottom-up assembly. These emerging technologies are not considered as a direct replacement for CMOS technology and may require a completely new architecture to achieve their functionality.

Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance and Reliability brings all of these issues together in one place for readers and researchers who are interested in this rapidly changing field.

ให้คะแนน eBook นี้

แสดงความเห็นของคุณให้เรารับรู้

ข้อมูลในการอ่าน

สมาร์ทโฟนและแท็บเล็ต
ติดตั้งแอป Google Play Books สำหรับ Android และ iPad/iPhone แอปจะซิงค์โดยอัตโนมัติกับบัญชีของคุณ และช่วยให้คุณอ่านแบบออนไลน์หรือออฟไลน์ได้ทุกที่
แล็ปท็อปและคอมพิวเตอร์
คุณฟังหนังสือเสียงที่ซื้อจาก Google Play โดยใช้เว็บเบราว์เซอร์ในคอมพิวเตอร์ได้
eReader และอุปกรณ์อื่นๆ
หากต้องการอ่านบนอุปกรณ์ e-ink เช่น Kobo eReader คุณจะต้องดาวน์โหลดและโอนไฟล์ไปยังอุปกรณ์ของคุณ โปรดทำตามวิธีการอย่างละเอียดในศูนย์ช่วยเหลือเพื่อโอนไฟล์ไปยัง eReader ที่รองรับ

อ่านซีรีส์นี้ต่อ

รายการอื่นๆ ที่เขียนโดย Mohammad Tehranipoor

eBook ที่คล้ายกัน